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XG-E絕緣電性能試驗箱

發(fā)布時間:2012-02-13

XG-E絕緣電性能試驗箱
本試驗箱與高阻計、電橋配合使用,可測量絕緣材料在50-200℃高溫下的下列電氣參數:● 體積電阻(Rv)或體積電阻系數(ρv)● 表面電阻(Rs)或表面電阻系數(Ps)● 電容(C)或介電常數(ε)● 介質損耗角正切(tgδ)主要技術指標● 電源電壓:220V● 加熱功率:1kW● 工作溫度:室溫~200℃● 電極溫度波動:≤±1℃● 測量端開路阻抗:>1013Ω● 最高測量電壓:2kV● 電極發(fā)熱時間常數:>5min● 測量極直徑:50mm● 保護環(huán)與測量極間隔:2mm● 電極套數:3